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熱門關(guān)鍵詞： 測角儀，應力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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針對高反射率（R99.7%）的光學樣品，德國 IPHT Jena研發(fā)了光腔衰蕩光譜法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）CRD高反射率測量儀, 它通過對指數(shù)型腔內(nèi)衰蕩信號的檢測，去掉了傳統(tǒng)檢測方法中激光能量起伏所引起的誤差,大大提高了測量精度。
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