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應力雙折射檢測

簡要描述:在硅太陽能電池板的生產過程中,硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到,我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測,它可以是方形的,也可以是生長的,然后被鋸成硅片,當這臺儀器被用作質量控制工具時,在后續(xù)加工成本發(fā)生之前,可以識別出低質量的硅錠或鋼錠。此外,該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質量的工具,使其能夠生產出較薄的硅片,降低了機械產量損失。

  • 產品型號:Exicor® PV-Si
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2025-03-12
  • 訪  問  量:3037

詳細介紹

  在硅太陽能電池板的生產過程中,硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到,我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測,它可以是方形的,也可以是生長的,然后被鋸成硅片,當這臺儀器被用作質量控制工具時,在后續(xù)加工成本發(fā)生之前,可以識別出低質量的硅錠或鋼錠。此外,該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質量的工具,使其能夠生產出較薄的硅片,降低了機械產量損失。
 
  Hinds Instruments 的Exicor® 應力雙折射檢測系統(tǒng)PV-Si是Exicor雙折射測量系統(tǒng)系列產品的工作平臺的擴展。本系統(tǒng)采用高質量的對稱光彈性調制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光電二極管探測器,實現(xiàn)了光伏和半導體工業(yè)中硅材料的高精度雙折射測量,除硅外,還可測量藍寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固、通用,可容納和測量直徑達8英寸的500毫米粗錠。臺面設計和直觀的自動掃描軟件使該產品成為原材料改進、研發(fā)和日常評估的選擇,也是對原始硅錠和其他高技術材料進行評估的選擇。
 
應力雙折射檢測
 

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